Открыть сервис

Сергей Петрович Румянцев

Сергей Петрович Румянцев (род. 27 марта 1948 года, Москва) — советский и российский учёный-физик, специалист в области физики твёрдого тела, физики полупроводников и нанотехнологий. Доктор физико-математических наук (1985), профессор (1991). Член-корреспондент Российской академии наук (РАН) с 2003 года. Известен работами по исследованию структуры и свойств нанокристаллических материалов, а также разработкой методов диагностики полупроводниковых структур.

Биография

Сергей Петрович Румянцев родился 27 марта 1948 года в Москве. В 1965 году поступил на физический факультет Московского государственного университета имени М. В. Ломоносова (МГУ), который окончил в 1971 году по специальности «физика». После окончания университета начал работать в Физическом институте имени П. Н. Лебедева Академии наук СССР (ФИАН), где прошёл путь от стажёра-исследователя до заведующего лабораторией.

В 1975 году защитил кандидатскую диссертацию на тему «Исследование оптических свойств тонких плёнок полупроводников методом эллипсометрии», а в 1985 году — докторскую диссертацию «Эллипсометрические методы исследования структуры и свойств полупроводниковых материалов и структур». В 1991 году ему было присвоено учёное звание профессора.

С 1990-х годов Румянцев активно занимается изучением нанокристаллических материалов. В 2003 году был избран членом-корреспондентом РАН по Отделению физических наук. В разное время работал в Институте физики микроструктур РАН (Нижний Новгород), а также вёл преподавательскую деятельность на кафедре физики полупроводников МГУ.

Научная деятельность

Основные научные интересы С. П. Румянцева связаны с физикой конденсированного состояния, в частности с исследованием нанокристаллических и аморфных полупроводников. Он является одним из ведущих специалистов в России по применению методов эллипсометрии и спектроскопии для изучения тонких плёнок и наноструктур.

Основные направления исследований

  • Эллипсометрия полупроводниковых структур: Румянцев разработал и усовершенствовал методы эллипсометрической диагностики, позволяющие определять толщину, оптические константы, шероховатость и состав тонких плёнок. Эти методы широко используются в микроэлектронике для контроля качества эпитаксиальных слоёв и диэлектрических покрытий.
  • Нанокристаллические материалы: Изучал структуру и свойства нанокристаллического кремния (nc-Si), а также других полупроводниковых нанокристаллов. В частности, исследовал зависимость оптических и электрофизических свойств от размера кристаллитов, что важно для создания новых типов солнечных элементов и светоизлучающих устройств.
  • Аморфные полупроводники: Занимался исследованием аморфного гидрогенизированного кремния (a-Si:H) и его сплавов. Изучал дефекты, механизмы переноса заряда и стабильность этих материалов, используемых в тонкоплёночных транзисторах и фотопреобразователях.
  • Фотоэлектрические явления: Исследовал процессы фотогенерации и рекомбинации носителей заряда в наноструктурированных полупроводниках, что имеет прикладное значение для повышения эффективности солнечных батарей.

Научные достижения

Румянцевым впервые были получены и систематически исследованы оптические свойства нанокристаллического кремния, легированного различными примесями. Он предложил модель, описывающую влияние размерных эффектов на ширину запрещённой зоны и спектры фотолюминесценции. Также им разработаны методики неразрушающего контроля качества полупроводниковых пластин, внедрённые в промышленность.

Публикации и редакционная деятельность

Сергей Петрович Румянцев является автором и соавтором более 200 научных работ, включая несколько монографий и обзоров. Наиболее известные публикации:

  • Монография «Эллипсометрия в исследовании полупроводниковых структур» (в соавторстве, 1990).
  • Статья «Optical properties of nanocrystalline silicon films» (Journal of Applied Physics, 1998).
  • Обзор «Nanocrystalline silicon: structure, properties, and applications» (Physics of the Solid State, 2005).

Он входит в состав редакционных коллегий нескольких научных журналов, в том числе «Физика и техника полупроводников» и «Письма в Журнал экспериментальной и теоретической физики». Член Российского общества спектроскопии и Американского физического общества.

Преподавательская деятельность

Профессор Румянцев читал лекции по физике полупроводников, оптике тонких плёнок и нанотехнологиям на физическом факультете МГУ и в Нижегородском государственном университете имени Н. И. Лобачевского. Под его руководством защищено более 10 кандидатских и 2 докторских диссертации. Он известен как строгий, но справедливый наставник, прививающий студентам навыки экспериментальной работы и анализа данных.

Признание и награды

  • Премия имени П. Н. Лебедева РАН (2000) — за цикл работ по эллипсометрии наноструктур.
  • Почётная грамота Министерства науки и высшего образования РФ (2008).
  • Медаль «За заслуги в развитии науки и техники» (2015).

Интересные факты

  • В свободное время Сергей Петрович увлекается историей физики и коллекционированием старинных физических приборов (электроскопов, спектрометров конца XIX — начала XX века).
  • Он является автором научно-популярных статей в журнале «Природа», где рассказывает о достижениях современной физики твёрдого тела.
  • В 2010 году Румянцев выступил с докладом на международной конференции по нанофотонике, где предложил оригинальную концепцию «кремниевого лазера» на основе нанокристаллических структур.

Критика

Некоторые коллеги отмечают, что работы Румянцева по нанокристаллическому кремнию, хотя и являются фундаментальными, не всегда находят прямое практическое применение из-за высокой стоимости синтеза и низкой стабильности материалов. Однако сам учёный подчёркивает, что фундаментальные исследования необходимы для понимания базовых физических процессов, которые в будущем могут привести к технологическим прорывам.

BFOmetr — база данных и аналитика по компаниям России.

На главную BFOmetr →