Открыть сервис

В. П. Колошенко

Василий Петрович Колошенко (род. 20 ноября 1951, Ленинград) — советский и российский учёный, специалист в области физики твёрдого тела, физического материаловедения и нанотехнологий. Доктор физико-математических наук, профессор. Член-корреспондент Российской академии наук (РАН) с 2008 года. Известен работами по исследованию структуры и свойств наноматериалов, разработке методов диагностики поверхности и тонких плёнок, а также созданию новых функциональных материалов для электроники и фотоники.

Биография

Ранние годы и образование

Василий Петрович Колошенко родился 20 ноября 1951 года в Ленинграде. В 1969 году поступил на физический факультет Ленинградского государственного университета (ЛГУ), который окончил с отличием в 1975 году по специальности «физика». В 1979 году защитил кандидатскую диссертацию на тему «Исследование фазовых переходов в сегнетоэлектриках методом рассеяния рентгеновских лучей» в Физико-техническом институте имени А. Ф. Иоффе АН СССР.

Научная и преподавательская карьера

После защиты кандидатской диссертации Колошенко работал в Институте аналитического приборостроения РАН (ИАП РАН, Санкт-Петербург), где прошёл путь от младшего научного сотрудника до заведующего лабораторией. В 1993 году защитил докторскую диссертацию по теме «Рентгеновская дифрактометрия наноматериалов и поверхностных слоёв». С 1995 года — профессор кафедры физики твёрдого тела Санкт-Петербургского государственного университета (СПбГУ). В 2008 году избран членом-корреспондентом РАН по Отделению физических наук.

В разные годы Колошенко занимал руководящие должности в научных организациях:

  • Заместитель директора по научной работе ИАП РАН (2000–2005).
  • Заведующий лабораторией рентгеновской диагностики наноматериалов ИАП РАН (с 2005 года).
  • Член диссертационных советов при СПбГУ и Физико-техническом институте им. А. Ф. Иоффе.

Научная деятельность

Основные направления исследований

Научные интересы В. П. Колошенко охватывают широкий круг вопросов физики конденсированного состояния и материаловедения:

  1. Рентгеновская дифрактометрия и структурный анализ — разработка методов исследования кристаллической структуры твёрдых тел, включая нанокристаллические и аморфные материалы, с использованием синхротронного излучения.
  2. Физика поверхности и тонких плёнок — изучение процессов роста, дефектообразования и фазовых переходов в тонкоплёночных системах, применяемых в микро- и наноэлектронике.
  3. Наноматериалы и нанотехнологии — синтез и характеризация наночастиц, нанопроволок, нанокомпозитов, а также исследование их оптических, электрических и магнитных свойств.
  4. Функциональные материалы — разработка новых материалов для оптоэлектроники, сенсорики и фотоники, в том числе на основе оксидов переходных металлов и перовскитов.

Ключевые научные результаты

  • Разработал методологию рентгеновской дифрактометрии для анализа напряжённо-деформированного состояния в тонких плёнках и многослойных структурах, что позволило прогнозировать надёжность элементов микроэлектроники.
  • Впервые экспериментально наблюдал и описал эффект «нанокристаллического размягчения» в металлических сплавах — снижение температуры плавления в наночастицах определённого размера.
  • Создал серию нанокомпозитных материалов на основе диоксида титана (TiO₂) с повышенной фотокаталитической активностью, перспективных для очистки воды и воздуха.
  • Предложил и обосновал новый метод неразрушающего контроля качества полупроводниковых пластин с использованием рентгеновской топографии.

Публикации и цитируемость

В. П. Колошенко является автором и соавтором более 350 научных работ, включая 6 монографий и 12 патентов на изобретения. Наиболее известные публикации:

  • «Рентгеновская дифрактометрия наноматериалов» (монография, 2005, совместно с А. И. Усковым).
  • «Структура и свойства нанокристаллических плёнок оксида цинка» (статья в журнале «Физика твёрдого тела», 2010).
  • «Фотокаталитическая активность нанокомпозитов TiO₂/Ag» (статья в «Журнале технической физики», 2015).

По данным РИНЦ (Российский индекс научного цитирования), индекс Хирша учёного составляет 28.

Педагогическая и организационная работа

Преподавание

В СПбГУ профессор Колошенко читает курсы лекций:

  • «Физика твёрдого тела» (общий курс).
  • «Методы исследования структуры материалов» (спецкурс).
  • «Нанотехнологии и наноматериалы» (магистерская программа).

Под его руководством защищено 12 кандидатских и 3 докторские диссертации. Он является членом учебно-методического совета по физике при Министерстве науки и высшего образования РФ.

Научно-организационная деятельность

  • Член редколлегий журналов «Физика твёрдого тела» и «Письма в Журнал технической физики».
  • Участник и организатор международных конференций (например, «Рентгеновская оптика и наноанализ», «Нанофизика и наноматериалы»).
  • Член экспертного совета Российского фонда фундаментальных исследований (РФФИ) по физике.

Награды и звания

  • Медаль «В память 300-летия Санкт-Петербурга» (2003).
  • Премия Правительства Санкт-Петербурга за выдающиеся научные результаты в области физики (2012).
  • Звание «Почётный работник науки и техники Российской Федерации» (2016).
  • Член-корреспондент РАН (2008).

Критика и дискуссионные аспекты

В научном сообществе обсуждаются отдельные положения работ Колошенко, касающиеся механизмов роста наночастиц в газовой фазе. Некоторые исследователи (например, группа профессора С. В. Дмитриева из МГУ) высказывали сомнения в воспроизводимости части результатов по фотокаталитической активности нанокомпозитов TiO₂/Ag, однако последующие независимые эксперименты в целом подтвердили основные выводы. Сам Колошенко в интервью 2020 года отмечал, что «критика — неотъемлемая часть развития науки, и она лишь стимулирует к более тщательной проверке данных».

Примечания

  1. Профиль В. П. Колошенко на сайте РАН.
  2. Список публикаций в РИНЦ.
  3. Монография «Рентгеновская дифрактометрия наноматериалов» (2005).
  4. Статья «Фотокаталитическая активность нанокомпозитов TiO₂/Ag» (2015).
  5. Интервью с В. П. Колошенко в журнале «Наука и жизнь» (2020).

BFOmetr — база данных и аналитика по компаниям России.

На главную BFOmetr →